型号：VertexII    由美国VJ公司设计制造
       美国VJ公司在X光检测领域具有近30年的历史，具有多年产品研发和制造经验。美国VJ公司长期致力于工业CT检测领域和标准的VERTEX系列X光检测领域，它不仅能够应用在各种机械结构部件中的检测，而且也广泛应用在电子制造行业对半导体器件和电路板的检测。
       美国VJ公司VERTEX系列X光检测系统分为A-75、A-90、A-130和A-150四款标准机型。该系列高解像度X光检测系统具有先进的图像处理功能，它不仅能够捕捉实时的动态图像，还可以通过一系列先进的缺陷增强分析技术，能够强化检测部位与其它部位的图像对比，极大地提高了图像的清晰度，有效地改善了图像的质量，更加方便了用户对检测故障的判别。
        A-130高解像度X光实时检测系统配置简单灵活，长期免维护，具有高分辨能力。 它装备有四至五轴的小型夹具和可承受重达五磅的大样品夹具，被测产品可进行旋转和倾斜。步进电机驱动使系统既具有在高放大率时低速稳定运动的能力，又可以快速行进较长距离。所有样本的移动不但可以由手动操纵杆单元控制，而且也可通过电脑编程来实现。检测过程可以利用鼠标进行图形化点击。另外系统具有未来可升级CT（断层扫描）选项。 A-130 高解像度X光实时检测系统定位应用于小型结构部件的无损检测、电装电路板和半导体封装厂做质量判别或工艺分析，可以帮助用户降低生产成本和提高产品质量。

设备检测范围：

• 小型机械结构部件检测
• 电缆及电缆接头检测
• BGA/倒装芯片（Flip Chip）检测
• IC封闭检测
• PCB板焊接检测
• 电容、电阻、通孔透锡检测
• 陶瓷混合电路
• 芯片的绑定线检测
• 短路、开路、冷焊、空洞的检测
• 传感器等配件的内部透视
• 电热管、锂电池等内部透视

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