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型号：SmartWLI系列 由德国WinWinTec公司设计制造白光干涉，作为一种广泛应用的三维表面形貌测量技术，其纵向分辨率可达到亚纳米级别。视场内信息采集与数据处理同时进行，大面积区域的高度信息采集时间短。多用于科学研究与质量管理领域，典型应用包括不同表面粗糙度样品的三维表面形貌测量（如晶片结构、镜面、玻璃与金属）、台阶高度测定和曲面精度测量（如微型透镜）。 SmartWLI系列白光干涉三维轮廓仪创新性地整合白光干涉技术，自主研发的SmartWLI 软件可以对整个测量过程进行监测与控制。其核心算法基于GBS长期研发与测量经验，具备高效、稳定、精度高等特点。
其技术优势：
- 非接触
- 纳米级精度
- 测量时间短
- 性能可靠
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